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YSM-8103-04紫外加強款面陣背照式光譜儀
YSM-8103-04 紫外加強款面陣背照式光譜儀是基于濱松面陣背照式非制冷CCD傳感器開發(fā)而來的,提供紫外靈敏型和紅外靈敏型兩個版本。是弱光譜測量的性價比之選。其波長范圍和光學(xué)分辨率均可獨立配置,支持二次開發(fā)、觸發(fā)控制,并可根據(jù)您的需求對光譜儀作深度定制。
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更新日期
2025-01-15
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廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
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755
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YSM-8102-03系列面陣背照式高分辨率光譜儀
YSM-8102-03系列面陣背照式高分辨率光譜儀,其設(shè)計采用了高分辨率的光機平臺,搭載濱松S160102048×64像素面陣CCD, 使光學(xué)分辨率優(yōu)可達0.1nm, 同時信噪比提升至800:1,動態(tài)范圍提升至50000:1,提升了700-1100n m范圍內(nèi)的靈敏度,因此該系列光譜儀非常適合于近紅外激光光譜分析。
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更新日期
2025-01-15
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廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
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754
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YSM-8102-01高分辨率光譜儀
YSM-8102-01 高分辨率光譜儀,采用高分辨率光機平臺,僅有手掌大小的體積,卻帶來更高的分辨率。優(yōu)化的光路設(shè)計使光學(xué)分辨率最高可至0.06nm。 用戶通過選擇不同的光柵配置可以獲得不同的光學(xué)分辨率和光譜響應(yīng)范圍。
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更新日期
2025-01-15
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廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
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942
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YSM-8102-02高分辨率光譜儀
YSM-8102-02高分辨率光譜儀系列,采用濱松S11639線陣探測器,動態(tài)范圍最大可至10000:1,積分時間低可至0.5ms, 同時信噪比提高到600:1,適合于通用性光譜分析與檢測,支持RS232/RS422通訊,增強了抗干擾性能,更適合應(yīng)用于工業(yè)和科研領(lǐng)域。
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更新日期
2025-01-15
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廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
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941
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YSM-8102-064096像素高分辨率光譜儀
YSM-8102-06 4096像素高分辨率光譜儀設(shè)計采用了濱松公司4096像素的S13496 CMOS探測器,相比S11649探測器,像元分辨率提供了1倍,極大地提升了光譜儀的測量精度,非常適合LIBS和其它激光光譜測量領(lǐng)域。
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更新日期
2025-01-15
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廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
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